岱鐠ITC Test Socket介紹

專為IC老化測試所設計的精準獨立溫控解決方案

 

岱鐠推出全新的測試治具ITC（獨立溫度控制）Test Socket，這款專為IC老化測試而設計的精密測試治具，提供獨立的溫度控制功能，能確保每顆IC都能在特定溫度下進行穩定測試，幫助客戶有效提高測試精度、縮短測試周期並降低測試成本。

傳統IC老化測試的挑戰

隨著市場對高性能IC需求的增長，對IC的可靠性、耐用性和準確性方面的測試要求也變得更加嚴格。然而，傳統的老化測試系統仍然面臨以下挑戰：

1. 溫控不穩或失準
   當同時加熱多顆IC時，往往需要設定比測試溫度更高的環境溫度，可能會導致IC的測試溫度不均或有誤差，難以保證每顆IC都有精確且穩定的測試溫度。
    
2. 高耗能與較長測試周期
   傳統的高溫測試系統需要更高耗能以維持長時間測試，導致成本增加。此外，傳統系統也需要更久的加熱及冷卻時間，可能導致測試週期延長，進而影響生產時程和整體效率。
    
3. 空間與設置需求
   傳統的老化測試系統需要較大空間及有效的通風環境來管理設備，增加設施成本。
    

岱鐠ITC Test Socket的特色

1. 高精度溫度控制
   為每顆IC提供獨立的溫度控制，並採用了高精度的溫度傳感器，溫差僅為±0.5°C，能夠滿足各種測試需求。
    
2. 高效耐用的加熱系統
   採用兼具高發熱效能與耐用性的陶瓷加熱片，支援從室溫至175°C的溫度設定，並確保升溫過程快速穩定，滿足精準的老化測試需求。
    
3. 靈活適應多樣需求
   兼容市面上所有IC封裝規格，並適用於不同的測試場景和條件。
    
4. 耐用穩定的設計
   採用耐高溫及耐磨損的材質製造，即使進行長時間測試也不會影響其性能及穩定性。
    

岱鐠 ITC Test Socket 的優勢

1. 提升測試精度
   搭配 ITC Test Socket 能精確的控制加熱溫度，避免溫度不均或失準，提升IC測試數據的可靠性。
    
2. 縮短測試週期
   更高效的升溫過程與穩定的溫度管理能夠縮短測試時間，加快新IC的上市時程。
    
3. 成本效益
   耐用的設計與高效的運行幫助降低維護成本，並通過精確測試減少錯誤，從而降低返件需求，提升測試效率。

岱鐠的ITC Test Socket幫助客戶提升IC測試效率，確保其產品保持可靠性與高效能。欲了解更多關於如何提升IC測試效能的資訊，歡迎隨時與我們聯絡。
 

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