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老化測試座 Burn-in Socket

Model Name : Burn-in Socket
DediProg的老化測試座(Burn-in Socket)採用模組化設計,可依測試需求安裝散熱器或ICTC模組。
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老化測試座 Burn-in Socket

DediProg的老化測試座(Burn-in Socket)採用模組化設計,可依測試需求安裝散熱器或ITC模組,並透過熱分析進行近評估。內含高性能彈簧針,可提供穩定和廣溫域測試表現。針對高腳數測試,我們亦提供專利的省力結構,讓使用更加便捷。
 


 

規格 SPEC

  1. IC Size: 30 x 30 mm (max.)
  2. Pin Count: ~3,000 Pin
  3. Operating Temp.: -55℃~150℃

 

接觸元件 Contact Element

  1. 彈簧探針 Pogo Pin
接觸元件彈簧探針 Pogo Pin
使用壽命 Life Time ~ 1,000,000 Cycle
最小間距 Pitch>0.15mm
溫域 Temperature-55℃ to 175℃
頻寬 Bandwidth<25GHz
適用IC封裝所有IC封裝
維修方便程度

 

材料 Material

  1. PEEK-Ceramic
  2. Ultem-2300
  3. Aul.-6061

 


 

型號 Model
 

型號 Model

M2632

M2632-HS

M5060

M5060-HS

Withstand voltage AC 700V For 1 Min. Insulation Resistance 1000MΩ at DC 500V
Outer Diameter

26 x 32mm

26 x 32mm

50 x 60mm

50 x 60mm

IC Size Range

0.8 x 0.8mm ~ 13 x 13mm

0.8 x 0.8mm ~ 13 x 13mm

< 30 x 30mm

< 30 x 30mm

Operation Temperature

-55~150 ℃

Max. Pin Count 

~300 Pin

~300 Pin

~3000 Pin

~3000 Pin

Thermal Power Diss.

~2W

~10W

~10W

~50W

 

HAST (Highly-Accelerated Temperature & Humidity Stress Test)
溫溼度試驗 → 130°C / 85% at 480hrs    
HTOL (High Temperature Operating Life Test)
高溫壽命試驗  → 150°C at 1000hrs 
LTOL (Low Temperature Operating Life Test)
低溫壽命試驗 → -55°C at 1000hrs

 


 

結構 Structure

 

型號: M5060 / M7080 老化測試座

M5060 / M7080 Burin-in Socket

 

型號: M2632 老化測試座

M2632 Burin-in Socket
產品 檔案類型 檔案描述 版本 下載 檔案大小 更新日期
IC Part Number Manufacturer Chip Type
Socket Adaptor Package IC Size - Length(mm) IC Size - Width(mm) IC Size - Pitch(mm) Remark