DediProg的老化測試座(Burn-in Socket)採用模組化設計,可依測試需求安裝散熱器或ITC模組,並透過熱分析進行近評估。內含高性能彈簧針,可提供穩定和廣溫域測試表現。針對高腳數測試,我們亦提供專利的省力結構,讓使用更加便捷。
接觸元件 | 彈簧探針 Pogo Pin |
使用壽命 Life Time | ~ 1,000,000 Cycle |
最小間距 Pitch | >0.15mm |
溫域 Temperature | -55℃ to 175℃ |
頻寬 Bandwidth | <25GHz |
適用IC封裝 | 所有IC封裝 |
維修方便程度 | 低 |
型號 Model | M2632 | M2632-HS | M5060 | M5060-HS |
Withstand voltage AC 700V For 1 Min. Insulation Resistance 1000MΩ at DC 500V | ||||
Outer Diameter | 26 x 32mm | 26 x 32mm | 50 x 60mm | 50 x 60mm |
IC Size Range | 0.8 x 0.8mm ~ 13 x 13mm | 0.8 x 0.8mm ~ 13 x 13mm | < 30 x 30mm | < 30 x 30mm |
Operation Temperature | -55~150 ℃ | |||
Max. Pin Count | ~300 Pin | ~300 Pin | ~3000 Pin | ~3000 Pin |
Thermal Power Diss. | ~2W | ~10W | ~10W | ~50W |
HAST (Highly-Accelerated Temperature & Humidity Stress Test) 溫溼度試驗 → 130°C / 85% at 480hrs | |
HTOL (High Temperature Operating Life Test) 高溫壽命試驗 → 150°C at 1000hrs | |
LTOL (Low Temperature Operating Life Test) 低溫壽命試驗 → -55°C at 1000hrs |
型號: M5060 / M7080 老化測試座 |
型號: M2632 老化測試座 |
產品 | 檔案類型 | 檔案描述 | 版本 | 下載 | 檔案大小 | 更新日期 |
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IC Part Number | Manufacturer | Chip Type |
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Socket Adaptor | Package | IC Size - Length(mm) | IC Size - Width(mm) | IC Size - Pitch(mm) | Remark |
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